日本奧林巴斯Olympus 38DL PLUS測厚儀
- 產(chǎn)品編號 : 38DL PLUS
- 38DL PLUS測厚儀是一款開創(chuàng)超聲測厚技術(shù)新時(shí)代的創(chuàng)新型儀器。這款手持式測厚儀可完美地適用于幾乎所有超聲測厚應(yīng)用，而且與所有雙晶和單晶探頭完全兼容。功能齊全的38DL PLUS測厚儀可用于各種應(yīng)用，包括使用雙晶探頭對內(nèi)壁腐蝕的管件進(jìn)行的管壁減薄的測量，以及使用單晶探頭對薄壁或多層材料進(jìn)行的精確的壁厚測量。
- 詢價(jià)
產(chǎn)品描述
38DL PLUS測厚儀是一款開創(chuàng)超聲測厚技術(shù)新時(shí)代的創(chuàng)新型儀器。這款手持式測厚儀可完美地適用于幾乎所有超聲測厚應(yīng)用，而且與所有雙晶和單晶探頭完全兼容。功能齊全的38DL PLUS測厚儀可用于各種應(yīng)用，包括使用雙晶探頭對內(nèi)壁腐蝕的管件進(jìn)行的管壁減薄的測量，以及使用單晶探頭對薄壁或多層材料進(jìn)行的精確的壁厚測量。 38DL PLUS的標(biāo)準(zhǔn)配置帶有很多既強(qiáng)大又易于使用的測量功能，以及一些專用于某些特殊應(yīng)用的軟件選項(xiàng)。其密封機(jī)殼的設(shè)計(jì)符合IP67評級要求，可以抵御潮濕或多沙塵的嚴(yán)酷的環(huán)境條件。彩色透反VGA顯示功能使得測厚儀顯示屏無論在明亮的陽光下還是在完全的黑暗中都能具有良好的可視性。測厚儀的鍵區(qū)既簡潔又符合人體工程學(xué)的要求。操作人員使用左手或右手即可輕易訪問所有功能。
◇雙晶與單晶探頭
◇堅(jiān)固耐用，設(shè)計(jì)符合IP67標(biāo)準(zhǔn)
◇厚度測量范圍為0.08毫米～635毫米
◇彩色透反VGA顯示
這款測厚儀與其他測厚儀有何不同？
38DL PLUS測厚儀的設(shè)計(jì)宗旨是滿足苛刻的應(yīng)用要求，而且可在野外和生產(chǎn)現(xiàn)場的惡劣條件下正常工作。無論檢測現(xiàn)場多么潮濕、有多大的塵沙、多么寒冷或多么炎熱、多么明亮或多么黑暗，38DL PLUS都可以正常進(jìn)行檢測工作。如果您需要一款防撞擊、防墜落、堅(jiān)固結(jié)實(shí)的測厚儀器，那么，符合IP67評級標(biāo)準(zhǔn)、帶有橡膠保護(hù)套的38DL PLUS正是您要尋找的儀器。
主要特點(diǎn)：
可與雙晶和單晶探頭兼容。
寬泛的厚度范圍：0.08毫米～635毫米，根據(jù)材料和所選探頭而定。
高分辨率軟件選項(xiàng)可進(jìn)行分辨率為0.001毫米的厚度測量。
多層軟件選項(xiàng)可對多達(dá)4個(gè)不同層同時(shí)進(jìn)行測量。
使用雙晶探頭進(jìn)行腐蝕測厚。
穿透涂層和回波到回波測量功能，用于測量表面帶有漆層和涂層的材料。
內(nèi)部氧化層/沉積物軟件選項(xiàng)。
對于所有探頭，標(biāo)準(zhǔn)分辨率為0.01毫米。
使用頻率范圍為2.25 MHz～30 MHz的單晶探頭，
高穿透軟件選項(xiàng)用于測量纖維玻璃、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料。
厚度、聲速和渡越時(shí)間測量。
差分模式和縮減率模式。
時(shí)基B掃描模式；每次掃查可獲得10000個(gè)可查讀數(shù)。
帶有數(shù)字式過濾器的Olympus高動態(tài)增益技術(shù)。
用于自定義V聲程補(bǔ)償?shù)?/span>V聲程創(chuàng)建功能。
設(shè)計(jì)符合EN15317標(biāo)準(zhǔn)。
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簡便操作的設(shè)計(jì)理念 |
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可用右手或左手單手操作的簡潔的鍵區(qū)。
可直接訪問所有功能的簡便易行的操作界面。 |
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對內(nèi)部腐蝕的金屬材料進(jìn)行厚度測量：
38DL PLUS測厚儀的一個(gè)主要應(yīng)用是測量那些受腐蝕或侵蝕的管道、管件、箱體、壓力容器、外殼及其他結(jié)構(gòu)的剩余厚度。這些應(yīng)用中常使用的是雙晶探頭。
用于標(biāo)準(zhǔn)D79X系列雙晶探頭的自動探頭識別功能。
10個(gè)自定義雙晶探頭設(shè)置。
校準(zhǔn)過程中用于雙晶探頭的優(yōu)化默認(rèn)增益。
用于自定義V聲程補(bǔ)償?shù)腣聲程創(chuàng)建功能。
校準(zhǔn)過程中出現(xiàn)回波加倍時(shí)使用的校準(zhǔn)加倍功能。
用于測量帶有漆層和涂層表面的材料的穿透涂層和回波到回波測量功能。
高溫測量：溫度可高達(dá)500°C。
鍋爐管件和內(nèi)部氧化層測量（可選項(xiàng)），使用M2017或M2091單晶探頭。
EMAT探頭（E110-SB），用于對外部附有氧化層/沉積物的鍋爐管件進(jìn)行不使用耦合劑的厚度測量。
對塑料、金屬、復(fù)合材料、玻璃、橡膠及陶瓷材料進(jìn)行厚度測量
用戶使用單晶探頭可以精確測量金屬、塑料、復(fù)合材料、玻璃、陶瓷及其他材料的厚度。我們提供各種頻率、直徑和接口類型的單晶探頭。用戶使用高分辨率軟件選項(xiàng)可以進(jìn)行分辨率為0.001毫米的精確的厚度測量。
在使用頻率范圍為2.25 MHz～30 MHz的單晶探頭的情況下，
高分辨率軟件選項(xiàng)可顯示分辨率高達(dá)0.001毫米的測量值。
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技術(shù)參數(shù) |
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測量 |
雙晶探頭測量模式 |
從激勵脈沖后的精確延時(shí)到第一個(gè)回波之間的時(shí)間間隔。 |
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穿透涂層測量模式 |
利用單個(gè)底面回波（使用D7906-SM和D7908探頭），測量金屬的實(shí)際厚度和涂層厚度。 |
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穿透漆層回波到回波測量模式 |
在兩個(gè)連續(xù)底面回波之間的時(shí)間間隔，不計(jì)漆層或涂層的厚度。 |
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單晶探頭測量模式 |
模式1：激勵脈沖與第一個(gè)底面回波之間的時(shí)間間隔。 模式2：延遲線回波與第一個(gè)底面回波之間的時(shí)間間隔（使用延遲線式或水浸式探頭）。 模式3：在激勵脈沖之后，位于第一個(gè)表面回波后的相鄰底面回波之間的時(shí)間間隔（使用延遲線式或水浸式探頭）。 氧化層模式：可選。 多層模式：可選。 |
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厚度范圍 |
0.080毫米～635.00毫米，視材料、探頭表面條件、溫度和所選配置而定。 |
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材料聲速范圍 |
0.508 mm/μs～13.998 mm/μs |
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分辨率（可選擇） |
低分辨率：0.1毫米 標(biāo)準(zhǔn)分辨率：0.01毫米 高分辨率（可選項(xiàng)）：0.001毫米 |
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探頭頻率范圍 |
標(biāo)準(zhǔn)：2.0 MHz～30 MHz（-3 dB） 高穿透（可選項(xiàng)）：0.50 MHz～30 MHz（-3 dB） |
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一般規(guī)格 |
工作溫度范圍 |
-10°C～50°C |
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鍵區(qū) |
密封、以色彩區(qū)分功能的鍵盤，帶有觸感及聲音反饋。 |
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機(jī)殼 |
防撞擊、防水、裝有密封墊的機(jī)殼；機(jī)殼上的接口密封。設(shè)計(jì)符合IP67標(biāo)準(zhǔn)。 |
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外型尺寸（寬 x 高 x 厚） |
總體尺寸：125毫米x211毫米x46毫米 |
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重量 |
0.814公斤 |
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電源 |
AC/DC適配器，24 V；鋰離子電池，23.760 Wh；或4節(jié)AA輔助電池。 |
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鋰離子電池供電時(shí)間 |
工作時(shí)間：*少12.6小時(shí)，一般14小時(shí)，*多14.7小時(shí)?？焖俪潆姡?/span>2小時(shí)到3小時(shí)。 |
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標(biāo)準(zhǔn) |
設(shè)計(jì)符合EN15317標(biāo)準(zhǔn)。 |
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顯示 |
彩色透反VGA顯示 |
液晶顯示，顯示屏尺寸：56.16毫米 X 74.88毫米 |
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檢波 |
全波、RF波、正半波、負(fù)半波 |
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輸入/輸出 |
USB |
1.0從接口。 |
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RS-232 |
有。 |
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存儲卡 |
*大容量：2 GB外置microSD存儲卡。 |
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視頻輸出 |
VGA輸出標(biāo)準(zhǔn)。 |
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內(nèi)置數(shù)據(jù)記錄器 |
數(shù)據(jù)記錄器 |
38DL PLUS通過標(biāo)準(zhǔn)RS-232串口或USB端口識別、存儲、回放、清除、傳輸厚度讀數(shù)、波形圖像和儀器配置信息。 |
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容量 |
475000個(gè)厚度測量讀數(shù)，或20000個(gè)帶厚度值的波形。 |
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文件名稱、ID編碼及注釋 |
32位字符的文件名，20位字符的字母數(shù)字位碼，每個(gè)位有四個(gè)注釋。 |
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文件結(jié)構(gòu) |
9個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的或自定義的用于特定應(yīng)用的文件結(jié)構(gòu)。 |
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報(bào)告 |
機(jī)載報(bào)告總結(jié)了數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)、帶有位置信息的*小值/*大值、*小值回顧、文件比較及報(bào)警報(bào)告。 |
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