產(chǎn)品描述

FISCHERSCOPE X-RAY XDL XDLM系列與XULXUUM的比較：

FISCHERSCOPE X-RAY XDL XDLM系列與XULXUUM系列密切相關:兩者都使用相同的接收器，準直器和濾片組合。配備了標準X射線管和固定準直器的XDL儀器非常適合大工件的測量。XDLM型號的X射線源采用微聚焦管，可以測量細小的部件，對低輻射組分有較好的激勵作用。此外，XDLM配備了可自動切換的準直器和多種濾片可以靈活地為不同的測量應用創(chuàng)造良好的激勵條件。兩種型號的儀器都配備了比例接收器探測器。即使對于很小的測量點，由于接收器的接收面積很大，仍然可以獲得足夠高的計數(shù)率，確保良好的重復精度。

比較XUL和XUM儀器而言，XDL和XDLM系列儀器測量測量方向從.上到下。它們被設計為用戶友好的臺式機，使用模塊化結(jié)構(gòu)，也就是說它們可以配備簡單支板，各種XY工作臺和Z軸以適應不同的需求。配備了可編程XY工作臺的版本的XDL系列儀器可用于自動化系列測試。它可以很方便地掃描表面，這樣就可以檢查其均勻性。為了簡單快速定位樣品，當測量門開啟時，XY工作臺自動移動到加載位置，同時激光點指示測量點位置。對于大而平整的樣品，例如線路板，殼體在側(cè)面有開口(C形槽)。由于測量室空間很大，樣品放置方便， 儀器不僅可以測量 平面平整的物體，也可以測量形狀復雜的大樣品(樣品高度可達140mm)。Z軸可電動調(diào)整的儀器，測量距離還可以在0 - 80 mm的范圍內(nèi)自由選擇，這樣就可以測量腔體內(nèi)部或表面不平整的物體(DCM方法)。

產(chǎn)品型號：

        ? FISCHERSCOPEX-RAY XDL M231 熒光鍍層測厚儀
        ? FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 232 x射線熒光鍍層測厚儀
        ? FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237 x射線熒光鍍層測厚和材料分析儀

應用實例:

    XDLM測量系統(tǒng)經(jīng)常用來測量接插件和觸點的各種底材上的Au/Ni, Au/PdNi/Ni, Ag/Ni或Sn/Ni鍍層的厚度。通常功能區(qū)都是很小的結(jié)構(gòu)如先進或突起，測量這些區(qū)域必須使用很小的準直器或適合樣品形狀的準直器。例如測量橢圓形樣品時，就要使用開槽的準直器以獲得*大的信號強度。

電鍍液成分分析：Cu, Ni, Au (g/l)

PCB測量: Au/Ni/Cu/PCB

特征:

      。帶玻璃窗口和鎢靶的X射線管或帶鈹窗和鎢靶的微聚焦X射線管。*高工作條件:50KV,50W
      。X射線探測器采用比例接收器
      。準直器:固定或4個自動切換，0.05 x0.05 mm到00.3 mm
      ?；緸V片:固定或3個自動切換
      。測量距離可在0-80 mm范圍內(nèi)調(diào)整
      。固定樣品支撐臺，手動XY工作臺
      。攝像頭用來查看基本射線軸向方向的測量位置。刻度線經(jīng)過校準，顯示實際測量點大小。
      。設計獲得許可， 防護全面，符合德國X射線條例第4章第3節(jié)

典型應用領域:

      。大批量電鍍件測量
      。防腐和裝飾性鍍層，如鎳或銅上鍍鉻
      。電鍍行業(yè)樓液分析
      。線路板行業(yè)如薄金，鉑和鎳鍍層的策略
      。測量接插件和觸點的鍍層
      。電子和半導體行業(yè)的功能性鍍層測量
      。黃金，珠寶和手表行業(yè)

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