FISCHER—讓測(cè)量變得簡(jiǎn)便
現(xiàn)今,F(xiàn)ISCHER 的測(cè)量和分析儀器廣泛應(yīng)用于世界各個(gè)領(lǐng)域,可滿足客戶對(duì)高精度、高可靠性測(cè)量和操作簡(jiǎn)便的需求。我們通過(guò)專業(yè)的咨詢服務(wù)為客戶提供理想的解決方案,即從第一次接觸開(kāi)始,不斷溝通,直至達(dá)到定制化服務(wù)的理念。這些緊密合作與我們的創(chuàng)新驅(qū)動(dòng)力不斷結(jié)合,為形成新的測(cè)量解決方案奠定了堅(jiān)實(shí)的基礎(chǔ)。ISOSCOPE®、 DELTASCOPE® 和DUALSCOPE® 手持式儀 器,配合各種探頭使用,可以簡(jiǎn)單、快速地測(cè)量涂鍍層的厚度。FISCHERSCOPE® MMS® PC, 集成了磁感應(yīng)法、渦流法和BETA背反射法的多功能測(cè)量系統(tǒng),用于測(cè)量鍍層厚度和材料測(cè)試。FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 基于X射線熒光法,用于測(cè)量鍍層厚度和材料分析 。
涂鍍層測(cè)厚儀:
膜厚測(cè)量: 無(wú)論是在鐵磁性材料上還是在非鐵磁性材料上測(cè)量涂層厚度或電鍍層厚度, 您都可以在FISCHER功能強(qiáng)大的手持式儀器分類中找到合適的便攜式測(cè)厚儀。 無(wú)論您有什么樣的測(cè)量需求,又或者要面對(duì)多少種不同的基體材料, FISCHER 的儀器和探頭必能讓您的測(cè)量手到擒來(lái)。根據(jù)您的需求選擇合適的型號(hào),點(diǎn)擊查 看詳細(xì)信息,如有任何疑問(wèn),或是想了解fischer更多產(chǎn)品信息,如:可選探頭、 校準(zhǔn)片、X-RAY膜厚儀、孔隙率測(cè)試儀等歡迎在線留言或來(lái)電咨詢! 021-58951071
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fischer膜厚儀MP0 |
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膜厚儀MP0R/MP0R-FP |
?無(wú)需校準(zhǔn)即可測(cè)量。 |
通過(guò)USB端口可以與電腦相連,探頭由連接電纜連接:
※ 儀器集成了探頭,便于操作,出色的重復(fù)精度 |
FMP10 |
FMP20 |
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FMP30 | FMP40 |
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手持式FMP系列是基于磁感應(yīng)法(DELTACOPE),電渦流(ISOSCOPE)和兩用方法(DUALSCOPE), 采用了可更換探頭的設(shè)計(jì),非常適用于對(duì)涂鍍層進(jìn)行無(wú)損測(cè)量。儀器的模塊化設(shè)計(jì),可供客戶根據(jù)不同的測(cè)量需求選配不同的測(cè)量系統(tǒng).除了眾多的測(cè)厚儀機(jī)型之外, FISCHER公司還向客戶提供大量不同功能的高精度探頭. DeltascopeFMP10和FMP30機(jī)型適用于測(cè)量鐵基體上涂鍍層厚度。 Isocope FMP10和FMP30機(jī)型是專為高精度測(cè)量非鐵 金屬上的超薄涂鍍層厚度而設(shè)計(jì)的。Dualscope FMP20和FMP40機(jī)型可以測(cè)量幾乎所有金屬底材上的涂鍍層厚度。 |
FMP10和FMP20型測(cè)厚儀是專業(yè)便攜式測(cè)量系統(tǒng)中的入門(mén)級(jí)機(jī)型, 是現(xiàn)場(chǎng)檢查和控制測(cè)量的理想選擇。它們操作簡(jiǎn)便,機(jī)體堅(jiān)固并 配有一塊高對(duì)比度彩色顯示屏和一個(gè)USB端口,可以輕松地將測(cè) 量數(shù)據(jù)傳輸?shù)诫娔X,并通過(guò)便利的FISCHER DataCenter軟件進(jìn) 行計(jì)算和儲(chǔ)存.FMP30和FMP40型儀器為測(cè)量數(shù)據(jù)的獲取提供了多的策略,為儲(chǔ)存客戶自定義的測(cè)量應(yīng)用提供更多的空間*多可以儲(chǔ)存20000個(gè)數(shù)據(jù),更是提供了藍(lán)牙數(shù)據(jù)傳輸功能。大量的圖形和統(tǒng)計(jì)功能使其能更適用于復(fù)雜的測(cè)量應(yīng)用. 另外儀器可以根據(jù)內(nèi)置的IMO PSPC、SSPC-PA2,QUALANOD 和 QUALICOAT規(guī)則進(jìn)行測(cè)量。 |
Dualscope FMP100/150 |
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Dualscope FMP100是一款功能強(qiáng)大、界面友好的涂鍍層測(cè)厚儀,可以滿足眾多不同的測(cè)量需求。它集成了磁感應(yīng)法和電渦流法于一體并可裝配各種不同的高精度探頭,即使在不斷變化的測(cè)量條件下,它都能很好的完成各種測(cè)量任務(wù)。它采用的Windows? CE操作系統(tǒng),擁有圖形用戶界面和高分辨率的觸摸顯示屏,并配備了可儲(chǔ)存幾千個(gè)測(cè)量程式的存儲(chǔ)空間和眾多的統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能,使其成為專業(yè)涂鍍層測(cè)試領(lǐng)域的很好解決方案。無(wú)論是用于汽車業(yè)、電鍍業(yè)、陽(yáng)極氧化應(yīng)用、防腐層耐用性測(cè)試還是精細(xì)涂層領(lǐng)域,在所有情況下,這款儀器一定會(huì)為您提供高的準(zhǔn)確度和精確性。DualscopeFMP150進(jìn)一步配備了第三種測(cè)量原理,即磁性法。它除了采用磁感應(yīng)法和電渦流法測(cè)量涂鍍層厚度外,還可以測(cè)量非磁性金屬底材上鎳鍍層的厚度。 |
SR-SCOPE® RMP30-S銅箔測(cè)厚儀 |
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COULOSCOPE® CMS2庫(kù)侖測(cè)厚儀 |
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通過(guò)電阻法無(wú)損測(cè)量印制電路板上銅鍍層的厚度。由于儀器能不受中間銅層和背面銅層的影響,因而特別適合多層板及超薄板上頂層銅箔厚度的測(cè)量。 |
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CMS 型儀器可以快速、精確地測(cè)量任何基材上幾乎所有金屬鍍層的厚度,甚至是多鍍層的厚度。它的測(cè)量是一個(gè) 通過(guò)庫(kù)侖法進(jìn)行反電鍍的過(guò)程。儀器采用了菜單式界面、 操作簡(jiǎn)便是對(duì)電鍍產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)控和來(lái)料檢驗(yàn)的理想選擇。CMS2 STEP型儀器用于對(duì)鍍層厚度和電位差進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化 STEP測(cè)試。 例如:對(duì)多層鎳產(chǎn)品的質(zhì)量控制。STEP (Simultaneous Thickness and Electrochemical Potential determination) 是一種針對(duì)多層鎳系統(tǒng),在測(cè)量每個(gè)單獨(dú)的鍍層厚度的同時(shí)還能測(cè)定相鄰鍍層的電位差的方法。對(duì)于鍍層厚度的測(cè)量是基于庫(kù)侖法,而電位曲線則是使用帶有AgCl鍍層的銀制參比電極進(jìn)行測(cè)量。 |
PHASCOPE® PMP10/PMP10 Duplex |
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主要用于在電鍍和PCB行業(yè)中對(duì)各種基材上的金屬鍍層的厚度進(jìn)行質(zhì)量控制。無(wú)論樣品表面是否平滑, PMP10都可以精確測(cè)量鐵基材上的鍍鎳層、鍍銅層和鍍鋅層的厚度; 它還能對(duì)印制電路板上的銅層厚度,甚至是孔內(nèi)銅層的厚度進(jìn)行測(cè)量。PMP10 Duplex型儀器是專為汽車行業(yè)測(cè)量雙鍍層而開(kāi)發(fā)的(例如:油漆/Zn/Fe)通過(guò)一次測(cè)量就能同時(shí)獲得和顯示兩層涂鍍層各自的厚度。它還可以測(cè)量鋁材上油漆層的厚度。
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FischerScope MMS/FischerScope MMS PC2 |
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帶內(nèi)置 Windows? CE操作系統(tǒng)和網(wǎng)絡(luò)互聯(lián)功能的臺(tái)式多功
能測(cè)量系統(tǒng),尤其適合于無(wú)損,高精度的鍍層厚度測(cè) 量及 |
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在配備了合適的測(cè)量模塊后, MMS PC2可靈活運(yùn)用于來(lái)
料檢驗(yàn),出廠檢驗(yàn),或是生產(chǎn)控等。能提供多種數(shù)據(jù)報(bào)告方
式,并通過(guò)FISCHER的FDD軟件進(jìn)行質(zhì)量過(guò)程控制.還可以
方便建立自動(dòng)測(cè)量,因?yàn)闇y(cè)量系統(tǒng)可以直接控制馬達(dá)的
測(cè)量臺(tái)或XY樣品臺(tái),并通過(guò)LAN及I/O模塊嵌入自動(dòng)生
產(chǎn)線。
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