產(chǎn)品描述

FISCHERSCOPEB X-RAY XAN 310高性價比的緊湊入門級X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀，用于快速、無損分析鍍層厚度及合金成分FISCHERSCOPE X-RAY XAN 310是一款X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀，特別適用于基本鍍層厚度及合金成分的無損分析。XAN310可以快速分析成分并用克拉顯示測量值，重量%或%o,其他合金成分也會同時得出。        FISCHERSCOPE@-X-RAY系統(tǒng)有著出色的精確性和良好的長期穩(wěn)定性，這樣就不需要經(jīng)常校準儀器，節(jié)省時間和精力。由于采用了基本參數(shù)法，無論是鍍層系統(tǒng)還是固體和液體樣品，都能在沒有標準片的情況下進行分析和測量。

XAN 310是一款用戶界面友好的臺式測量儀器。緊湊型的設計使儀器輕量化并且只需要很小的空間。測量室的門并不是向上打開，而是向前。因此可以使用筆記本放置在儀器_上方進行操作，來節(jié)省更多的空間。樣品定位簡單便捷。X射線源和接收器都集成在儀器底部艙室中，因而樣品的底部是實際被測量面，而樣品本身則由一層透明的薄膜窗口托放在測量室中。
內(nèi)置可變焦視頻系統(tǒng)和定位十字線，可以方便、準確地定位測量位置。通過功能強大、界面友好的WinFTM@軟件，可以在計算機上便捷地完成整個測量過程，以及測量結(jié)果的數(shù)據(jù)分析和所有相關(guān)信息的顯示等。FISCHERSCOPE X-RAY XAN完全滿足DIN ISO 3497標準和ASTM B 568標準。

典型應用領(lǐng)域 ? 珠寶和手表行業(yè)金和貴金屬分析 ? 測量幾個納米的超薄鍍層，如印刷線路板和電子元件上的Au和Pd。 ? 痕量分析（如電子元件(RoHS)或工具中的有害物質(zhì)） ? 用XAN 150分析諸如Al，Si，P等輕元素 ? 實驗室，測試機構(gòu)和大學里一般性的材料分析和鍍層厚度測量