產品描述

菲希爾熒光鍍層測厚儀介紹：

在電鍍或電子元件生產過程中需要快速且精確地測定鍍層厚度時，XUL® 系列測量儀器是您的*選解決方案。X 射線熒光儀器可自下而上進行測量，能夠在測量臺上對樣品進行輕松定位。該系列的所有 X 射線儀器均配備相同的探測器。您可以根據自己的測量需求選擇不同的準直器、濾波器以及 X 射線管。

型號包括：

        ? FISCHERSCOPE® X-RAY XUL® 210
        ? FISCHERSCOPE® X-RAY XUL® 220
        ? FISCHERSCOPE® X-RAY XULM® 240

特性：

    。 憑借寬大的測量室和自下而上的測量方向，即使大型樣品（如：印制電路板或柔性電路板）也可簡便、快速地定位
    。 硬件選項豐富多樣，可滿足各種測量需求
    。 可選配微聚焦 X 射線管，從而可測量直徑僅為 100 μm 的微型結構和測量表面

應用：

    。 鉻鍍層，如：經過裝飾性鍍鉻處理的塑料制品
    。 防腐蝕鍍層，如鋼材上的鋅鍍層
    。 印制電路板和柔性電路板上的鍍層
    。 接插件和連接器上的鍍層
    。 電鍍槽液分析

特征：

    。 帶玻璃窗口和鎢靶的X射線管或帶鈹窗口和鎢靶的微聚焦X射線管。 *高工作條件:50KV,50W
    。 X射線探測器采用比例接收器
    。 準直器:固定或4個自動切換，0.05 x0.05mm到直徑00.3mm
    。 基本濾片:固定或3個自動切換
    。 測量距離可在0-27.5mm范圍內調整
    。 固定的樣品支撐臺或手動XY工作臺
    。 攝像頭用來查看基本射線軸向方向的測量位置。 刻度線經過校準， 顯示實際測量點大小。
    。 設計獲得許可， 防護全面， 符合德國X射線條例第4章第3節(jié)

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